13-03-2018
Keysight nos ofrece este seminario titulado “Soluciones Prácticas de Diseño, Simulación y Test (SI,PI,ETH,EMI/EMC, Medida…)”. El seminario se derarrolla en múltiples ubicaciones. Puede ver los detalles en la página de Keysight (aquí).
Los componentes y sistemas electrónicos de hoy en día requieren una gran variedad de tecnologías con mayor frecuencia de operación para llevar a cabo de forma eficiente las tareas de diseño y verificación. El incremento de la integración de diferentes tecnologías en espacios muy reducidos obliga a optimizar el diseño y utilizar las mejores herramientas en el proceso de diseño. Una colección de herramientas puntuales sólo permite solucionar diferentes problemas de forma aislada. Cuando estas tecnologías se integran unas con otras, usted tiene la capacidad de mejorar el diseño en su conjunto y verificar la conformidad con las especificaciones correspondientes en un entorno de simulación realista.
Este seminario analizará con ejemplos prácticos las nuevas tecnologías de diseño, simulación y test que ofrece Keysight: SI/PI/ETH/EMI/EMC y Medida. Estas nuevas capacidades le ayudarán a analizar un amplio rango de escenarios posibles, optimizar sus decisiones de producto, así como optimizar y mejorar las futuras posibilidades de sus diseños.
08:45 – 09:00 | Registro y Presentación |
09:00– 09:30 | Introducción: Soluciones de Diseño y Simulación SI/PI/ETH/EMI/EMC |
09:30– 11:00 | SI/PI Diseño y Simulación: Consideraciones y Ejemplos Prácticos de Buses Digitales y Memoria DDR |
11:00 – 11:30 | Café |
11:30 – 12:30 | Sistemas de Test para Verificar SI/PI/EMI/EMC |
12:30 – 13:30 | Retos de un Diseño Complejo con Señales Mixtas Digitales y Analógicas: SI, PI, ETH y EMI/EMC – Ejemplo |
13:30 | Cierre |
Puede ver todos los detalles en la página del evento de Keysight (aquí).
Martes 13 de marzo de 2018.
Sala de Grados, edificio A. – Escuela Politécnica Superior
Universidad Autónoma de Madrid (UAM)
Francisco Tomás y Valiente, 11
28049 MADRID
Puede ver como llegar (Aquí).
[Evento finalizado]