19-04-2018

Seminario Keysight: Tecnologías de Medida de Materiales

Tecnologías de Medida de Materiales: Caracterización Electromagnética y Medida de Materiales

Keysight nos ofrece este seminario titulado “Tecnologías de Medida de Materiales: Caracterización Electromagnética y Medida de Materiales”. El seminario se derarrolla en múltiples ubicaciones. Puede ver los detalles en la página de Keysight (aquí).


Introducción:

Comprender las propiedades de los materiales, tanto los naturales como los creados por el hombre, supone una ventaja competitiva crítica. Materiales metálicos, semiconductores, y orgánicos han supuesto grandes avances tecnológicos en el último sigo. Materiales nuevos como nanotubos de carbono o grafeno auguran nuevos avances en este siglo. Keysight Technologies continúa desarrollando y ofreciendo soluciones de medida a la altura de las demandas incrementales de los investigadores.
Acompáñenos en este seminario donde exploraremos diferentes tecnologías de caracterización electromagnética de materiales, los puntos fuertes de cada una y los retos que nos permiten superar desde DC hasta THz.

Agenda y Detalles:

Horario Presentación
09:00 – 09:05 Presentación y Bienvenida
09:05 – 09:45 Retos y Soluciones en Ciencia de Materiales
09:45 – 10:50 Soluciones Avanzadas en Medida de Impedancia
10:50 – 11:10 Café
11:10 – 12:50 Caracterización de Materiales desde DC hasta THz
12:50 – 13:30 Caracterización Eléctrica de Dispositivos GaN & SiC
13:30 Cierre

 

Puede ver todos los detalles en la página del evento de Keysight (aquí).

Fecha:

jueves 19 de abril de 2018.

Lugar:

Sala de Grados, edificio A. – Escuela Politécnica Superior
Universidad Autónoma de Madrid (UAM)
Francisco Tomás y Valiente, 11
28049 MADRID

Puede ver como llegar (Aquí).

Registro:

El registro es gratuito y las plazas son limitadas. Puede hacer el registro en la página de Keysight (aquí).